描述：美標(biāo)ASTM沖擊試驗(yàn)投影儀是根據(jù)ASTM標(biāo)準(zhǔn)中根據(jù)沖擊試樣缺口的加工要求而研制開(kāi)發(fā)的一種于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器，是各種沖擊試驗(yàn)中U型缺口和V型缺口檢測(cè)的*實(shí)用儀器。
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 交通,冶金,航天 |
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美標(biāo)ASTM沖擊試驗(yàn)投影儀是根據(jù)ASTM標(biāo)準(zhǔn)中根據(jù)沖擊試樣缺口的加工要求而研制開(kāi)發(fā)的一種于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器。ST-50美標(biāo)沖擊試樣缺口投影儀利用光學(xué)投影方法，將被測(cè)件U型或V型輪廓放大投影到投影屏上，與投影屏上U型或V型公差帶樣板圖形相套準(zhǔn)進(jìn)行比較。主要優(yōu)點(diǎn)：結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、操作方便、檢測(cè)直觀、效率高，是UV缺口檢測(cè)的實(shí)用儀器。
美標(biāo)ASTM沖擊試驗(yàn)投影儀是根據(jù)ASTM標(biāo)準(zhǔn)中根據(jù)沖擊試樣缺口的加工要求而研制開(kāi)發(fā)的一種于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器。ST-50美標(biāo)沖擊試樣缺口投影儀利用光學(xué)投影方法，將被測(cè)件U型或V型輪廓放大投影到投影屏上，與投影屏上U型或V型公差帶樣板圖形相套準(zhǔn)進(jìn)行比較。主要優(yōu)點(diǎn)：結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、操作方便、檢測(cè)直觀、效率高，是UV缺口檢測(cè)的實(shí)用儀器。
